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108D

了解产品

  • 芯片

    核心器件自主研发，降低成本25%

  • 显卡

    独特惯性系统算法，性能提升20%

  • 材质

    具备批量生产工艺，质量高效提升

  • 外观

    掌握全产业链核心，研发创新升级

  • 插口

    贯穿器件仪表系统，跨行应用成熟

  • HDD

    掌握全产业链核心，研发创新升级

产品外观

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典型技术指标

项目 单位 FOG200A FOG200B FOG200C FOG200D
测量范围 °/s -1000~+1000 -1000~+1000 -1000~+1000  
零偏稳定性 °/h ≤0.2 ≤0.5 ≤1.0  
零偏重复性 °/s ≤0.2 ≤0.5 ≤1.0  
随机游走系数 °/√h ≤0.2 ≤0.5 ≤1.0  
标度因数非线性 ppm ≤0.2 ≤0.5 ≤1.0  
启动时间 s ≤1
带宽 Hz ＞200

注释：

① 性能根据测试配置、固件版本的不同可能有所差异。

② 测试在设备稳态下进行，使用SNIA SSS-PTS-E测试规范。

③ 平均延迟使用4KB随机 I/O模型。

④ DWPD，5年每天全盘写入次数。

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应用场景

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